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Mikroskopie

Klassische optische Mikroskopie braucht seit ehedem präzise Positionierung. Moderne hochauflösende Sensoren, welche in nicht-optischen Mikroskopen (STM, AFM, SEM, usw.) zum Einsatz kommen, erfordern Auflösungen bis hinunter zu Nanometern und darunter. nanoFaktur liefert Nano-Positionierungen für Objektive, hochauflösende Abtastsensoren und für Proben. Sämliche 6 Freiheitsgrade können abgedeckt werden.

Objektivversteller

SFS QuickFocus

150 µm
Anwenderstandard
kompakt
Gewinde wählbar

dynamisch, steif

SFS SlimFocus

200 µm
Gewinde wählbar
freier Zugang

SFS RangeFocus 100-600 µm

100/300/600 µm
kompakt
Gewinde wählbar

SF_ StraightFocus 100-800 µm

100/400/800 µm
Geradführung
kap. oder DMS-Sensoren
Gewinde wählbar

MegaFocus 1200 µm

1200 µm
Geradführung
kapazitiver Sensor
Gewinde wählbar

Probentische Z

SPS Z-Tische

Z Probentische
150/600 µm
Probenhalter optional

SPS Z-Inserts

Z Einbautische
120/250/500 µm
Probenhalter optional

Objektivadapter

OBJ Objektivadapter

Objektivadapter
Alle Standardgewinde
metrisch, zollmaßig, Hybrid

Piezo-Tische ohne Sensor werden mit Ansteuerungen betrieben. Systeme mit Sensor erfordern Regelungen.

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Warum wir?

Bei uns bekommen Sie die kompetenteste Beratung zum Einsatz von Piezo-Technologie in Ihrer Anwendung. Antworten und Angebote kommen dann schnell. Denn Sie sprechen direkt mit den Fachleuten. Die Lieferzeiten – selbst für Modifikationen oder Sonderentwicklungen – sind überschaubar.

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